貴金屬執(zhí)行標準
常用珠寶首飾相關(guān)標準我國標準分為國家標準、行業(yè)標準、地方標準和企業(yè)標準，又分為強制性標準和推薦性標準，標準編碼的組成為：標準代號+標準順序號+批準年號。
| 國家、行業(yè)、地方標準代號 | ||
| 標準層次 | 強制性標準 | 推薦性標準 |
| 國家標準 | GB | GB/T |
| 輕工行業(yè)標準 | QB | QB/T |
| 地方標準 | DB | DB/T |
| 企業(yè)標準 | Q/企業(yè)代號 | |
| 貴金屬執(zhí)行標準 | |||
| 標準號 | 名稱 | 適用范圍 | 實施日期 |
| GB 11887-2012 | 首飾 貴金屬純度的規(guī)定及命名方法 |
本標準規(guī)定了首飾中貴金屬的純度范圍、印記、測定方法和貴金屬首飾的命名方法。 本標準適用于首飾行業(yè)和國內(nèi)生產(chǎn)及銷售的貴金屬首飾。貴金屬擺件參照執(zhí)行。 |
2013-05-01 |
| GB/T18043-2013 | 貴金屬首飾含量無損檢驗方法-X射線熒光光譜法 |
本標準規(guī)定了應(yīng)用X射線熒光光譜測定首飾中貴金屬含量的方法及要求。 本標準適用于首飾和其他工藝品的定性分析及其中的貴金屬（金、銀、鉑、鈀）含量的篩選檢測。 |
2014-03-01 |
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QB/T 2062-2006 |
貴金屬飾品 |
本標準規(guī)定了貴金屬飾品（以下簡稱飾品）的分類、要求、試驗方法、檢驗規(guī)則及標志、包裝、運輸、貯存。 本標準適用于金、銀、鉑、鈀等貴金屬及其合金制成的首飾，也適用于貴金屬及其合金制成的工藝品及擺件。 |
2006-12-01 |
| DB44/495-2008 |
貴金屬飾品 標注方法 |
本標準規(guī)定了貴金屬及貴金屬鑲嵌飾品（包括首飾和工藝品）的產(chǎn)品標識的基本要求和標注方法。本標準適用于貴金屬及貴金屬鑲嵌飾品標識標注。 |
2008-10-01 |
| GB/T 28020-2011 |
飾品 有害元素的測定 X射線熒光光譜法 |
本標準規(guī)定了飾品中有害元素的X射線熒光光譜檢測方法。 本標準適用于各種材質(zhì)的飾品（珠寶玉石除外）表層中有害元素的檢測。 |
2012-02-01 |
| GB/T28021-2011 |
飾品 有害元素的測定 光譜法 |
本標準規(guī)定了飾品中有害元素的含量及溶出量的光譜測定方法。本標準適用于飾品中有害元素的含量及溶出量的測定。 | 2012-02-01 |
| GB28480-2012 |
飾品 有害元素限量的規(guī)定 |
本標準規(guī)定了飾品中有害元素的種類及其限量。本標準適用于各種材質(zhì)的飾品(玉石除外) | 2013-05-01 |
| GB/T19719-2005 |
首飾 鎳釋放量的測定 光譜法 |
本標準規(guī)定了首飾中鎳的釋放量的測試方法，以測定該樣品鎳的釋放量是否大于0.5μg/(cm²·week)。本標準適用于GB11887-2002中4.3.2所規(guī)定的含鎳首飾鎳釋放量的測試，也適用于長期接觸人體皮膚的制品。 | 2005-09-01 |
| QB/T 1690-2004 | 貴金屬飾品質(zhì)量測量允差的規(guī)定 | 本標準規(guī)定了金、銀、鉑、鈀飾品及材料質(zhì)量測量允差的要求、試驗方法和標志。本標準適用于以質(zhì)量結(jié)算的金、銀、鉑、鈀飾品及材料的貿(mào)易。 | 2005-01-01 |
| GB/T1423-1996 | 貴金屬及其合金密度的測試方法 | 本標準規(guī)定了貴金屬及其合金材料室溫密度的測定方法。本標準適用于貴金屬及其合金材料室溫密度的測定。其他金屬及合金材料以及部分非金屬固體材料亦可參照使用。本標準不適用于粉末材料及多孔材料密度的測定。 | 1997-04-01 |
| QB1131-2005 |
首飾 金覆蓋層厚度的規(guī)定 |
本標準規(guī)定了首飾制品金覆蓋層厚度的術(shù)語和定義、要求、檢驗方法和標識。本標準適用于非金基體的首飾制品。 | 2006-05-01 |
| QB1132-2005 |
首飾 銀覆蓋層厚度的規(guī)定 |
本標準規(guī)定了首飾制品銀覆蓋層厚度的術(shù)語和定義、要求、檢驗方法和標識。本標準適用于非銀基體的首飾制品。 | 2006-05-01 |
| QB/T1135-2006 |
首飾 金、銀覆蓋層厚度的測定 X射線熒光光譜法 |
本標準規(guī)定了用X射線熒光光譜法測量首飾金、銀覆蓋層厚度的方法。本標準適用于首飾及其它工藝品中金、銀等覆蓋層厚度的測定(覆蓋層與基體為非相同材質(zhì))。注：本方法測定的覆蓋層厚度相當于足金或足銀的厚度，可根據(jù)實際金、銀覆蓋層含量進行折算。 | 2006-12-01 |
| QB/T2997-2008 | 貴金屬覆蓋層飾品 | 本標準規(guī)定了貴金屬覆蓋層飾品的術(shù)語和定義、要求、試驗方法標志、包裝、運輸、貯存。本標準適用于除貴金屬(金、銀、鉑、鈀、銠等)以外的各類金屬為基材制作的金覆蓋層系列、銀覆蓋層系列和銠覆蓋層系列等飾品。以非金屬為基材的貴金屬覆蓋層飾品可參照本標準執(zhí)行。 | 2008-12-01 |
| GB/T17832-2008 |
銀合金首飾 銀含量的測定 溴化鉀容量法 (電位滴定法) |
本標準規(guī)定了采用溴化鉀容量法(電位滴定法)測定銀合金首飾中的銀含量。本標準適用于銀含量800‰~990‰的銀合金首飾、工藝品及其材料。本標準被GB11887指定為銀首飾中銀含量測定的仲裁方法。 注：銀合金中可以含有銅、鋅、鎘和鈀，這些元素除鈀必須在滴定前先沉淀分離外，其余元素的存在不會干擾本測定方法。 |
2009-07-01 |
| GB/T 9288-2006 |
金合金首飾 金含量的測定灰吹法（火試金法） |
本標準規(guī)定了采用灰吹法（火試金法）測定金合金首飾中含金量的方法。 本標準適用于金含量在333.0‰~999.5‰的各種金和K金首飾（不含鉑、銠等不溶于硝酸的成分）的金含量的測定。 本標準被GB 11887指定為金合金首飾中金含量分析的仲裁方法。 |
2006-10-01 |
| GB/T601-2002 | 化學(xué)試劑標準滴定溶液的制備 | 本標準規(guī)定了化學(xué)試劑標準滴定溶液的配制和標定方法。本標準適用于制備準確濃度的標準滴定溶液，以供滴定法測定化學(xué)試劑的純度及雜質(zhì)含量，也可供其他行業(yè)選用。 | 2003-04-01 |
| GB/T602-2002 | 化學(xué)試劑 雜質(zhì)測定用標準溶液的制備 | 本標準規(guī)定了化學(xué)試劑雜質(zhì)測定用標準溶液的制備方法。本標準適用于制備單位容積內(nèi)含有準確數(shù)量物質(zhì)(元素、離子或分子)的溶液，適用于化學(xué)試劑中雜質(zhì)的測定，也可供其他行業(yè)選用。 | 2003-04-01 |
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GB/T603-2002 |
化學(xué)試劑 試驗方法中所用制劑及制品的制備 |
本標準規(guī)定了化學(xué)試劑試驗方法中所用制劑及制品的制備方法。本標準適用于化學(xué)試劑分析中所需制劑及制品的制備，也可供其他行業(yè)選用。 | 2003-04-01 |
| GB/T6682-2008 | 分析實驗室用水規(guī)格和試驗方法 | 本標準規(guī)定了分析實驗室用水的級別、規(guī)格、取樣及貯存、試驗方法和試驗報告。本標準適用于化學(xué)分析和無機痕量分析等試驗用水?？筛鶕?jù)實際工作需要選用不同級別的水。 | 2008-11-01 |
| GB/T22554-2010 | 基于標準樣品的線性校準 |
本標準規(guī)定了測量系統(tǒng)的校準以及被校準測量系統(tǒng)維持在統(tǒng)計受控狀態(tài)的通用原則。本標準規(guī)定了用于以下目的的基本方法： a)測量變異性兩種假定下線性校準函數(shù)的估計；b)校準函數(shù)線性性和測量變異性假定的檢驗；c)被測值基于校準函數(shù)變化后的新未知量的估計。 本標準給出了校準函數(shù)使用周期的控制方法，用于： a)檢驗校準函數(shù)何時需要更新； b)通過校準函數(shù)變換后被測值的不確定度評估。 本標準規(guī)定了特定條件下基本方法的兩種替代方法，給出了基本方法和控制方法的示例。 本標準適用于可獲取標準樣品的測量系統(tǒng)及假定線性校準函數(shù)的測量系統(tǒng)，并提供了檢驗線性假定的方法。 本標準不適用于已知校準函數(shù)呈非線性情況，除非使用8.3描述的“夾逼技術(shù)”。 本標準不區(qū)分各種類型的標準樣品，并認為測量系統(tǒng)校準所用標準樣品的接受值不存在誤差。 |
2011-04-01 |
| GB/T16597-1996 |
冶金產(chǎn)品分析方法 X射線熒光光譜法通則 |
本標準規(guī)定了用X射線熒光光譜法進行元素定量分析的一般事項，包括所涉及的常用術(shù)語、基本原理、儀器、樣品處理、定量分析等，供以X射線管作激發(fā)源的波長色散X射線熒光光譜儀使用。 本標準適用于制(修)訂冶金產(chǎn)品的X射線熒光光譜法國家標準或行業(yè)標準，其他標準也可參照使用。 |
1997-04-01 |
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GB/T 16921-2005 ISO3497：2000 |
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X射線光譜方法 |
本標準規(guī)定了應(yīng)用X射線光譜方法測量金屬覆蓋層厚度的方法。 本標準所用的測量方法基本屬于測定單位面積質(zhì)量的一種方法。如果已知覆蓋層材料的密度，則測量結(jié)果也可以用覆蓋層的線性厚度表示。 本測量方法可同時測量三層覆蓋層體系，或同時測量三層組分的厚度和成分。 給定覆蓋層材料的實際測量范圍主要取決于被分析的特征X射線熒光的能量以及所允許的測量不確定度，而且因所用的儀器設(shè)備和操作規(guī)程而不同。 |
2006-04-01 |
| QB/T2630.1-2004 |
金飾工藝畫 第1部分：金膜畫金層 |
本部分規(guī)定了金膜畫金層的要求和試驗方法。 本部分適用于在金膜上印刷各種文字、圖案、書畫、照片等金膜畫的金層。 |
2005-01-01 |
| QB/T2630.2-2004 |
金飾工藝畫 第2部分：金箔畫金層 |
本部分規(guī)定了金箔畫金層的要求和試驗方法。 本部分適用于金箔畫的生產(chǎn)和檢驗。其他貼金膠片工藝品可參照執(zhí)行。 |
2005-01-01 |
| QB/T2631.1-2004 |
金飾工藝畫 金層含金量與厚度測定 ICP光譜法 第1部分：金膜畫 |
本部分規(guī)定了金膜畫金層含金量與厚度的測定方法。 本部分適用于QB/T2630.1《金飾工藝畫 第1部分：金膜畫金層》所規(guī)定的金層含金量與厚度的測定，也適用于在金膜上印刷各種文字、圖案等制品金層的測試。 |
2005-01-01 |
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QB/T2631.2-2004 |
金飾工藝畫 金層含金量與厚度測定 ICP光譜法 第2部分：金箔畫 |
本部分規(guī)定了金箔畫金層含金量與厚度的測定方法。 本部分適用于QB/T2630.2《金飾工藝畫 第2部分：金箔畫金層》所規(guī)定的金層含金量與厚度的測定。其他貼金膠片工藝品測定可參照執(zhí)行。 |
2005-01-01 |
| GB/T21198.4-2007 |
貴金屬合金首飾中貴金屬含量的測定 ICP光譜法 第4部分：999‰貴金屬合金首飾 貴金屬含量的測定 差減法 |
GB/T21198的本部分規(guī)定了通過測定999‰的貴金屬合金首飾中的雜質(zhì)元素含量來確定鉑合金首飾中的鉑含量，鈀合金首飾中的鈀含量，金合金首飾中的金含量的方法。 本部分適用于含量為999‰的貴金屬合金首飾。注：首飾中可含鉑、鈀、金、鉍、鎘、鈷、銅、鐵、銥、鎳、鉛、銠、釕、錫、鈦和鋅。 |
2008-07-01 |
| GB/T21198.5-2007 |
貴金屬合金首飾中貴金屬含量的測定 ICP光譜法 第5部分：999‰銀合金首飾 銀含量的測定 差減法 |
GB/T21198的部分規(guī)定了通過測定999‰銀合金首飾中的雜質(zhì)元素含量來確定銀含量的方法。 本部分適用于銀含量為999‰的銀合金首飾。注：首飾中可含鉑、鈀、金、鉍、鎘、鈷、銅、鐵、銥、鎳、鉛、銠、釕、錫、鈦和鋅。 |
2008-07-01 |
| GB/T21198.6-2007 |
貴金屬合金首飾中貴金屬含量的測定 ICP光譜法 第6部分：差減法 |
GB/T21198的本部分規(guī)定通過測定金、鉑、鈀合金首飾中雜質(zhì)元素含量來確定貴金屬含量的方法。 本部分適用于GB11887所確定的金、鉑、鈀首飾純度范圍，其中金含量為725‰~999‰，鉑量為800‰~999‰，鈀含量為800‰~999‰。注：首飾中可含鉑、金、鈀、銀、銅、鎳、鈷、鐵、鋅、鎘、釕、銠和銥等元素。 |
2008-07-01 |
